复旦大学突破性研发首款二维-硅基混合架构闪存芯片

来源: 星品数码网

随着科技的快速发展,集成电路领域面临不断增长的性能与存储需求。2023年10月8日,复旦大学在这一领域取得了重要进展,成功研发出全球首款二维-硅基混合架构闪存芯片。这一突破不仅标志着二维电子器件的工程化再上台阶,同时为新一代信息技术的应用奠定了坚实的基础。

突破性的研究成果

根据快科技的报道,复旦大学的研究成果以《全功能二维-硅基混合架构闪存芯片》(A full-featured 2D flash chip enabled by system integration)为题,发表在国际顶尖学术期刊《自然》(Nature)上。继半年前推出的“破晓(PoX)”皮秒闪存器件之后,复旦大学的研究团队再一次取得了显著的里程碑式成绩。

这一新型闪存芯片的研发过程,突破了新型二维信息器件工程化过程中的一系列关键技术难题。一方面,它为新型器件的市场应用缩短了时间成本,另一方面,它也为推动信息技术迈向更快、更高效的新时代提供了重要支持。

传统CMOS技术的转型

当前,CMOS(互补金属氧化物半导体)技术依然是集成电路制造的主流工艺,市场上大多数的集成电路芯片均使用这一工艺。尽管CMOS产业链相对成熟,但其技术瓶颈显现,亟需新技术的突破与融合。复旦大学的研究团队意识到,如果能在CMOS技术的基础上引入新材料、新工艺,能够为CMOS技术带来新的生机与活力。

根据复旦大学的研究成果,这款二维-硅基混合架构闪存芯片通过将CMOS电路与二维存储核心有效结合,实现了8-bit指令操作、32-bit高速并行操作与随机寻址,良率达到了94.3%。这样的性能,“碾压”了目前流行的Flash存储技术,并为混合架构的工程化开辟了新的方向。

二维材料的挑战与创新

在该研究中,二维半导体材料的使用就是核心之一。二维材料的厚度仅有1-3个原子,彷如“蝉翼”般纤细且脆弱,这使得将其集成至传统CMOS电路成为一项极具挑战性的任务。若直接铺设二维材料,其可能性在于材料的易损与电路性能的下降,显然,创新的集成方式势在必行。

复旦大学的研究团队决定从二维材料的天然柔性入手,寻找合适的结合方法。他们成功研发出能够在原子尺度上实现二维材料和CMOS衬底的紧密贴合,并保持电性性能的关键工艺。这一创新使得最终获得了超94%的良率,对推动未来集成电路性能的提升具有重要意义。

实践与未来展望

经过多轮测试与改进,复旦大学的二维-硅基混合架构闪存芯片已成功流片,团队计划建设实验基地,与相关科研机构展开深入合作,推动自主主导的工程化项目。这意味着,复旦大学不仅在理论层面达成了突破,更在实际应用层面迈出了坚实的一步。

在未来,随着这一新型闪存技术的不断完善与创新,其潜在的市场应用前景广阔,包括智能手机、计算机、物联网设备等各个领域。同时,二维材料与传统CMOS技术的结合,有望引发整个集成电路行业的新一轮技术革命,有效推进信息技术向更高速度、高效率的方向发展。

复旦大学这一技术突破不仅是学术界的一次巨大成功,更标志着中国在全球信息技术领域的重要地位。随着后续研究与商业化的推进,二维-硅基混合架构闪存芯片有潜力为人类未来的技术进步与创新变革带来深远影响。

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